Inicio Contacto Mapa del sitio RSS
Seguinos en Twitter
 
|
Método de Rietveld aplicado a Difracción de Rayos X de Polvos
Segundo semestre 2017

Profesor Responsable:
Lic. María Susana Conconi.

Docentes participantes:
Dr. Nicolas Rendtorff.
Lic. Matias Gauna.
Dr. Matias Stabile.

Duración:
35 hs.

Modalidad:
Teórico-práctico.

Tipo de evaluación prevista:
Evaluación escrita teórico - práctica. Análisis de casos.

Fecha de dictado:
28 de agosto al 01 de septiembre 2017.

Cupo de alumnos:
30.

Contacto con el responsable para inscripciones:

Dirección:
CETMIC ( CONICET-CIC-UNLP) Cno. Centenario y 506 M. B. Gonnet.

Teléfono:
0221-484-0247/ 0167/ 471-0075 (int 105).

Fax: Int 120.

Correo electrónico:
msconconi@cetmic.unlp.edu.ar

 

Se cuenta con ayuda económica del Sistema Nacional de Rayos X para pasajes y viáticos de alumnos provenientes de CABA e interior del país. 
Solicitarla al inscribirse.

 

Programa curso

Actualizado el 08/06/2017