Fundamentos y aplicaciones de las microscopías de efecto túnel (STM) y de fuerzas atómicas (AFM)
Fundamentos y aplicaciones de las microscopías de efecto túnel (STM) y de fuerzas
atómicas (AFM)
Profesor Responsable
Dra. María Elena Vela.
Docentes Participantes:
Carolina Vericat (2 horas)
Patricia Schilardi (2 horas)
Guillermo Benítez (2 horas)
María Elena Vela (6 horas )
Eduardo Prieto (6 horas de laboratorio en dos turnos)*
(*) Los laboratorios cuya duración es de tres horas se harán en dos turnos diferentes para facilitar la participación de los alumnos en grupos de no más de cinco personas
Duración Total
15 Horas.
Modalidad
Teórico práctico.
Tipo de evaluación prevista
Examen
Fecha de dictado
10, 11 y 12 de julio.
Inscripción (con la responsable del curso Dra. Vela)
3 al 21 de junio.
Cupo de alumnos
10.
Exigencias y requisitos de inscripción
Poseer título de grado en carreras universitarias del área de las Cs. Exactas y Naturales,
Medicina e Ingeniería.
Contacto para Información e Inscripciones
mevela@inifta.unlp.edu.ar
Teléfono:
4257430
Fax:
4254642