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Fundamentos y aplicaciones de las microscopías de efecto túnel (STM) y de fuerzas atómicas (AFM)
Fundamentos y aplicaciones de las microscopías de efecto túnel (STM) y de fuerzas atómicas (AFM)
Primer semestre 2018

Fundamentos y aplicaciones de las microscopías de efecto túnel (STM) y de fuerzas
atómicas (AFM)

Profesor Responsable
Dra. María Elena Vela.

Docentes Participantes:
Carolina Vericat.
Patricia Schilardi.
Guillermo Benitez.
Eduardo Prieto.

Duración Total
15 Horas.

Modalidad
Teórico práctico.

Tipo de evaluación prevista
Monografía.

Fecha de dictado
3, 4 y 5 de julio.

Inscripción (con la responsable del curso Dra. Vela)
4 al 22 de junio.

Cupo de alumnos
10.

Exigencias y requisitos de inscripción
Poseer título de grado en carreras universitarias del área de las Cs. Exactas y Naturales,
Medicina e Ingeniería.

Contacto para Información e Inscripciones
mevela@inifta.unlp.edu.ar

Teléfono:
4257430

Fax:
4254642

 

Programa curso

 

Actualizado el 07/05/2018